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當免洗焊錫絲出現錫須現象所帶來(lái)的危害
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???1951年,Compton、Mendizza和Amold【1】發(fā)現免洗焊錫絲出現錫須會(huì )導致電路短路,并導致電容器失效,這一問(wèn)題引發(fā)人們對Sn晶須進(jìn)行了長(cháng)期深入而廣泛的研究。但是時(shí)至今日,Sn晶須現象還存在大量未解之謎,可以認為這一現象本身至今依然很神秘。
晶須是指在金屬表面生長(cháng)出的細絲狀單晶,通常生長(cháng)在厚度較小的金屬沉積層表面,而以含錫鍍層表面生長(cháng)的Sn晶須最典型。由于材料內應力梯度的存在,免洗焊錫絲錫須的生長(cháng)是一個(gè)自發(fā)的過(guò)程,但是,其生長(cháng)速度與外部環(huán)境條件密切相關(guān)。
由免洗焊錫絲錫須導致的失效形式主要有4種【2】;在低電壓下,由于電流比較小,錫須可以在領(lǐng)近不同電勢表面產(chǎn)生穩定持久的短路;在高電壓下,當電流足夠高而超過(guò)Sn晶須的熔斷電流時(shí),可以熔斷晶須從而導致瞬時(shí)短路;在航天器真空環(huán)境中,由錫須短路導致金屬蒸發(fā)放電,可形成一個(gè)穩定的等離子電弧,并導致電子設備迅速毀壞;在震動(dòng)環(huán)境中,晶須脫落會(huì )引發(fā)電路短路,同時(shí)還可造成精密機械的故障或破壞。歷史上由于晶須導致的失效故障很多,其中有一些甚至是災難性的故障??梢?jiàn)包括心臟起搏器、F15戰斗機雷達、火箭發(fā)動(dòng)機、愛(ài)國者導彈、核武器等各種電子產(chǎn)品中都曾發(fā)生過(guò)因晶須問(wèn)題導致的事故。值得指出的是,在衛星等太空電子產(chǎn)品中也已經(jīng)發(fā)生了數起由晶須問(wèn)題引起的故障甚至嚴重事故。因此,Sn晶須問(wèn)題成為無(wú)鉛化進(jìn)程的一個(gè)重要的可靠性問(wèn)題。這也是無(wú)鉛焊錫絲及所有無(wú)鉛焊錫產(chǎn)品進(jìn)程的重要的可靠性問(wèn)題。
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